技術(shù)文章
當(dāng)前位置：
主頁 >
技術(shù)文章 > 揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量
揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量
更新時(shí)間：2017-08-15 點(diǎn)擊次數(shù)：3133
揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)用戶可以根據(jù)數(shù)據(jù)的需求選擇各種標(biāo)準(zhǔn)，包括與平均值的偏離情況，高值的偏離和許多其他常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)識(shí)，如系統(tǒng)斷電等，這種帶有日期、時(shí)間和類型的標(biāo)識(shí)會(huì)被記錄，并且在日常的數(shù)據(jù)修復(fù)時(shí)打印出來。每個(gè)循環(huán)進(jìn)行的自動(dòng)零點(diǎn)和漂移標(biāo)定可以確保可靠而的測(cè)量，當(dāng)儀器出現(xiàn)故障，錯(cuò)誤標(biāo)識(shí)會(huì)被存儲(chǔ)且數(shù)據(jù)視為無效。零點(diǎn)測(cè)試是在每個(gè)循環(huán)開始和結(jié)束時(shí)進(jìn)行的，β射線法揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在測(cè)量空白過濾紙時(shí)仍可以保持正常輸出。漂移測(cè)量是通過在測(cè)量路徑上自動(dòng)插入一張參比膜來實(shí)現(xiàn)的。
揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)工作原理，系統(tǒng)通過先進(jìn)的β射線法微處理器系統(tǒng)控制，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)量。在開始采樣時(shí)，發(fā)射的β射線通過一個(gè)過濾帶的清潔面測(cè)量，然后該過濾帶截面被推至采樣口，粒子物質(zhì)被吸入采樣口并且沉淀在濾紙上，當(dāng)采樣結(jié)束后，過濾帶返回到其原始位置，再重新測(cè)量透過截面的β射線，通過兩種測(cè)量結(jié)果的不同，從而準(zhǔn)確的得出粒子濃度。應(yīng)用這種β射線衰減的原理測(cè)量質(zhì)量粒子密度，一個(gè)小的14C射線源（β射線）連接一個(gè)靈敏的用來計(jì)算發(fā)射的β粒子的探測(cè)器。該過濾帶放置在β射線源和探測(cè)器之間，當(dāng)沉淀在過濾帶上的粒子增加時(shí)，探測(cè)器上測(cè)到的β粒子便會(huì)減少。
揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用β射線測(cè)試法檢測(cè)，粉塵粒子吸收β射線的量與粉塵粒子的質(zhì)量成正比關(guān)系，根據(jù)粉塵粒子的吸收β射線的多少，計(jì)測(cè)出粉塵的質(zhì)量濃度（mg/m3）。不會(huì)因環(huán)境中粉塵粒子大小及顏色而導(dǎo)致檢測(cè)的數(shù)值出現(xiàn)偏差。可快速測(cè)塵、直讀數(shù)據(jù)，操作簡(jiǎn)便。利用沖擊原理采樣。沖擊過后的粉塵粒子將被均勻采集，從而確保樣品的全面性、科學(xué)性。
